Спектрометр рентгенофлуоресцентный EDX2800 (Skyray, США)
РФА анализатор элементного состава. Спектрометр рентгенофлуоресцентный EDX 2800 XRF.
Область применения:
- EDX2800 разработан для анализов по директиве RoHS, а также для полного поэлементного анализа сталей и сплавов, в том числе и ювелирных изделий;
- определение толщины напыления.
Технические характеристики:
Диапазон измерений:
1ppm--99.99%;
Точность определения толщины напыления:
0.05um;
Точность:
0.05%;
Диапазон элементов:
S~U, пределы обнаружения RoHS анализа по Cd,Pd,Cr,Hg,Br достигают 1PPM;
Измеряемые субстанции:
порошкообразные, твердые, жидкие вещества;
Время тестирования :
60--300 сек;
Счетчик :
1300~8000 Cps ;
Напряжение:
15~50кВ;
Сила тока:
50~1000мА;
Относительная влажность:
<70%;
Размеры:
605*395*70 мм;
Напряжение:
AC 100В/220В ;
Коллиматор:
Φ8, Φ6, Φ4, Φ3, Φ2, Φ1, Φ0.5, Φ0.1мм.
Полупроводниковый детектор с электрической системой охлаждения;
Комплектация:
- Детектор на регулируемом резистивном диоде;
- Усилитель;
- Источник питания высокого напряжения;
- Рентгеновская трубка.
Безопасность:
Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 2800 XRF безопасен для использования, предупреждает рентгеновское облучение за счет включения свинцового листа в крышки экрана. Оборудование прошло обязательную сертификацию и признано безопасным.